Instrumento de medición digital de puente LCR de sobremesa ET4401 ET4410 para capacitancia, resistencia, impedancia e inductancia.
Descripción del Producto:
El puente digital LCR de la serie ET44 está diseñado utilizando el principio de puente de equilibrio automático y el analizador de parámetros de componentes. Las pruebas abarcan un ancho de banda de 10 Hz a 100 kHz y ofrecen una precisión de medición del 0,1 % en la función de clasificación básica. Este instrumento proporciona un análisis y una inspección precisos y completos para la gran mayoría de componentes y materiales. Se utiliza ampliamente en la investigación y el desarrollo de productos, así como en la inspección de componentes entrantes y en aplicaciones en línea de productos.
Características del producto:
Medición de frecuencia de hasta 100 kHz,
Nivel de prueba 10 ～ 2000 mV,
Admite la medición de resistencia de CC (DCR) y de condensadores electrolíticos.
Salida de voltaje de polarización interna de 0 mV a 1500 mV
Pantalla TFT de 3,5 pulgadas, cinco pantallas
Comunicaciones: Dispositivo USB, RS232, Asa,
Función de registro de datos (máximo, mínimo, promedio)
Compatibilidad con el protocolo de comunicación SCPI
Proporcione la configuración del sistema, puede configurar según sea necesario el idioma chino o inglés, el zumbador, el brillo de la pantalla, etc.
Precisión de medición básica del 0,1 %
Rango manual y automático
Con función de calibración de circuito abierto y cortocircuito.
Separación del comparador (5), función de alarma
Principales indicadores técnicos:
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Modelo |
ET4401 |
ET4402 |
ET4410 |
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Frecuencia de las pruebas |
10 puntos (100, 120, 200, 400, 800, 1K, 2K, 4K, 8K, 10K) |
12 puntos (100, 120, 200, 400, 800, 1K, 2K, 4K, 8K, 10K, 15K, 20K) |
16 puntos (100, 120, 200, 400, 800, 1K, 2K, 4K, 8K, 10K, 15K, 20K, 40K, 50K, 80K, 100K) |
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Pantalla |
Pantalla LCD TFT de 3,5 pulgadas |
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Número de dígitos mostrados |
Parámetro principal: 5 dígitos Parámetro secundario: 5 dígitos |
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Parámetro medido: |
Parámetro principal: L/C/R/Z Parámetro secundario: X/D/Q/θ/ESR |
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Rango de medición |
L: 0,001µH～9999H, C: 0,001 pF a 99,999 mF R: 0,0001Ω～99,99MΩ |
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Precisión básica |
0,1% |
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Medición de la velocidad de visualización |
2 veces/s (lento), 4 veces/s (medio), 8 veces/s (rápido) |
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sesgo interno |
Rango de ajuste de 0 a 1500 mV, con incrementos de 1 mV. |
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Nivel de prueba |
Seis niveles fijos (0,1 V, 0,3 V, 0,6 V, 1 V, 1,5 V, 2 V) |
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impedancia de salida de la fuente de señal |
30Ω, 100Ω |
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Función de calibración |
Calibración en circuito abierto, calibración en cortocircuito |
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Función de cribado |
El rango límite de detección se puede establecer entre -50% y +50%, y los puntos fijos son 1%, 5%, 10% y 20%. |
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Comparador |
5 grupos de clasificación, 3 grupos de entornos calificados, un grupo de entornos no calificados, un grupo de entornos auxiliares. |
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Interfaces |
estándar: RS232, dispositivo USB, controlador; |
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Otros |
Admite resistencia de CC (DCR), modelo de medición de condensador electrolítico, ajuste del brillo de la retroiluminación, chino e inglés opcionales. |
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